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电流源表半导体器件iv测试仪

电流源表半导体器件iv测试仪
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品牌: 普赛斯仪表
测试范围: ±300mV~±300V/±100pA~±3A
测试精度: 0.03%
工作环境: 25±10℃
单价: 1000.00元/台
起订: 1 台
供货总量: 10000 台
发货期限: 自买家付款之日起 30 天内发货
所在地: 湖北 武汉市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2024-05-15 11:15
浏览次数: 4
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明
电流源表半导体器件iv测试仪优势

◾ 性能强大-作为电压源和或电流源,并同步测量电流和或电压,支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小,预防器件损坏。覆盖0-3A的电流范围0-300V的电压范围,全量程测量精度0.03%。

◾ 灵活多样-支持两线制和四线制测量,更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。

◾ 易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模式,便于使用和查看。详询一八一四零六六三四七六;

面板示意图

多合一高精密SMU,简化测量

传统的半导体I-V特性测量方案通常是复杂且成本昂贵的,需要多种仪器配合完成测试,对不同仪器进行编程、同步、连接、测量和分析,既复杂又耗时,还需占用大量测试台空间。

 

S系列字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载,其高性能架构允许其使用作为波形发生器、以及自动电流-电压(I-V)表征系统。极大缩短测试系统的开发、建立和维护的时间,同时节省测试架或测试台的宝贵“空间”,降低购买测试系统的整体成本。

 

四象限工作,可以作为源或负载

电源象限是指以电源输出电压为X轴、输出电流为Y轴形成的象限图。第一、三象限即电压电流同向,源表对其它设备供电,称为源模式;第二、四象限即电压电流反向,其它设备对源表放电,源表被动吸收流入的电流,且可为电流提供返回路径,称为阱模式。


与传统矩阵电源不同,S系列源表在同等功率下,客户可根据实际需求,选择大电压小电流或小电压大电流输出。选择的量程不同,S系列源表的源/阱极限也有区别。

 

 

源限度-电压源:

 

 

 

士10V(≤3A量程),土30V (≤1A量程),士300V (≤100mA量程)

源限度-电流源:

土3(≤10V量程),土1A(≤30V量程),士100mA (≤300V量程)


轻松满足常用的测量需求

触摸屏幕上的任意图标,就会出现图像化设置屏幕。在测量前按照向导逐一设置,操作更直观。


提供的应用程序

 

- 序列扫描

- 自定义序列

- 数据记录仪:持续输出恒压源测试模式;持续输出恒流源测试模式

- APD管

- 晶体管:MOSFET管测试;三极管测试

- LIV:PIN管扫描测试

- Gummer:双台源表使用同样参数进行扫描

 

数字微安源表应用领域:

​分立器件特性测试:电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件;
能量与效率特性测试:LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器;
传感器特性测试:电阻率、霍尔效应等;
有机材料特性测试:电子墨水、印刷电子技术等;
纳米材料特性测试:石墨烯、纳米线等;
激光器特性测试:窄脉冲LIV测试系统;
功率器件:静态测试系统;
电流传感器:动静态参数测试系统;

S系列订货信息


选择普赛斯仪表的理由:
1、国产自主研发
      技术雄厚,多项砖利,自主可控
2、可定制化方案
      聚焦鲜进器件,提供成熟可落地定制化方案
3、对标进口
      国货精品,品质保障,对标进口产品

 

 

 
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